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系統級測試

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系統級測試

隨著晶體管密度和尺寸不斷提升,芯片功能和應用場景均越來越復雜,傳統的FT(Final Test) 已無法滿足終端客戶對FDPPM的要求。

芯云半導體有豐富的系統級產品測試(System Level Testing, SLT) 經驗, 可滿足客戶不同產品尺寸以及溫控場景需求。

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